La microscopía electrónica de barrido, es un método capaz de estructurar una gran complejidad de materiales, como nano-estructurados, aleaciones metálicas, polímeros, minerales, fibras, películas delgadas, biomateriales, y en algunos casos muestras con alto contenido en humedad, es muy versátil, permite suministrar información y caracterización superficial de materiales orgánicos e inorgánicos, mostrando información morfológica, de composición química rápida, eficaz y paralelamente del material analizado. Su variabilidad, está dada en su alta percepción (de 20 a 50 Å), de imágenes tridimensionales, producto de su gran profundidad de foco.

Asimismo, trabajan con un haz de electrones, para crear el perfil en condiciones de alto vacío (10-6 torr), las partes esenciales del microscopio son, columna de electrones, consola de controles y sistema de adquisición de imágenes.

Desempeño del Microscopio Electrónico de Barrido

La microscopía electrónica de barrido, es una práctica de determinación no destructiva, que facilita información celular y de estructura química de los materiales. Mediante éste equipo, los científicos permiten trabajar con muestras conductoras, no conductoras, secas y húmedas.

De esta manera, sus funciones están estructuradas de la siguiente manera:

• En la parte superior de la columna, se localiza el emisor de electrones, que produce un haz de electrones, y es conducido por lentes electromagnéticos. 
• Posee un sistema de deflexión, el cual mueve el haz en forma de “zig zag” para hacer un barrido superficial del material, causando señales por la interacción del haz con el espécimen. Estas señales (rayos secundarios, rayos retro-dispersados y rayos X entre otros), están conectadas por detectores, y cada uno de ellos aportan información específica, los rayos secundarios, producen imágenes SEI (Secundary Electron Image) de morfología superficial de la muestra, los electrones retrodispersados, transmiten imágenes con diferente brillantez, en función de la composición química y topografía de la superficie BEI (Backscattered Electron Image), y los Rayos X, EDS (Energy Dispersive Spectrometer) obtiene información adjetiva de composición química de la muestra, de forma rápida y eficiente, realizando un análisis semi-cuantitativo de los elementos detectados.

Aplicaciones de Uso

La microscopía electrónica de barrido, es una técnica que sirve para examinar la conformación de materiales sólidos de todo tipo (metales, cerámicos, polímeros, biológicos, etc.), con excepción de muestras líquidas. La resolución del equipo, permite experimentar tipologías de la materia prima, a una escala muy pequeña. De igual manera, se pueden mostrar todos los compuestos químicos, con número atómico mayor a cuatro de manera cualitativa y semicuantitativa. Posee ventajas, de acuerdo a la facilidad de preparación de muestras, ya que sólo en casos especiales se puede tornar laboriosa.

Las aplicaciones típicas de este tipo de equipo, son: realización de secciones transversales, preparación de muestras ultrafinas para TEM (lamelas), reconstrucción tridimensional del volumen de un espécimen y litografía electrónica e iónica.

El análisis y estudio de muestras biológicas, orgánicas e inorgánicas mediante Microscopía Electrónica de Barrido de alta resolución:

• Imágenes topográficas de alta resolución por SE (Electrones Secundarios).
• Imágenes de composición o distribución química por Electrones Retrodispersados (BSE)
• Imágenes STEM (barrido-transmisión).
• Perfiles analíticos y mapas de distribución de elementos por EDX (Energía Dispersiva de Rayos X).
• Mapas de orientaciones cristalinas y texturales por EBSD (Difracción de Electrones Retrodispersados).

Asimismo, para los servicios disponibles mediante la combinación de columnas electrónicas e iónicas:

• Ejecución de secciones transversales, para análisis y definición de muestras en profundidad.
• Elaboración de muestras ultrafinas o lamelas, para TEM (Microscopio Electrónico de Transmisión).
• Restauración tridimensional del volumen de un espécimen.
• Litografía electrónica e iónica a escala nanométrica.

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